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OptoFlat® 高精度低相干干涉儀
OptoFlat? 高精度低相干干涉儀是行業(yè)內獨有的低成本、高穩定性以及結構緊湊的平面專(zhuān)用低相干干涉儀。其采用低相干性長(cháng)壽命633nm的LED光源，波長(cháng)帶寬1nm。在測量透明材質(zhì)的雙面平行光學(xué)元件的單個(gè)表面面型時(shí)不會(huì )受到其他表面的干涉條紋影響，所以OptoFlat可以排除來(lái)自多個(gè)表面的干擾，直接測得目標表面的面型精度。對于測量實(shí)心玻璃棱鏡的前表面面型時(shí)也可以抑制其他反射面的影響。2023-06-01 -
µPhase® UNIVERSAL 100 臥式干涉儀
*用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統
*適合長(cháng)焦光學(xué)零件和系統的檢測
*鏡頭口徑：50mm、100mm或150mm2023-06-01 -
高精度干涉儀 Trioptics μPhase®
用于測量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進(jìn)行最精確的評價(jià)。2023-06-01
面型測試設備(干涉儀)
μPhase®系列干涉儀可對高精度要求的光學(xué)零件進(jìn)行面型測試，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進(jìn)行最精確的評價(jià)。
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