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中心厚度測量?jì)x
中心厚度測量?jì)x等產(chǎn)品用于厚度測量，OptiSurf® LTM鏡片厚度測量?jì)x能很好的適用于不同產(chǎn)品的非接觸式單鏡片中心厚度測量系統；OptiSurf鏡面定位儀用于高精度地測量光學(xué)系統中的光學(xué)元件的空氣間隔和中心厚度。
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