Mach–Zehnder干涉儀的基本原理在于通過(guò)巧妙的光路設計，將一束光分成兩束，經(jīng)過(guò)不同的路徑后再重新匯合，從而產(chǎn)生干涉現象。這一現象為我們提供了一種精確測量光的特性以及相關(guān)物理量的方法。

    然而，其魅力不僅在于原始的設計，更在于不斷演變出的多種變形。其中一種變形在測試斜入射反射中的平面表面方面展現出了出色的能力。通過(guò)這種變形，我們能夠更加精準地分析平面表面在斜入射情況下的反射特性，為相關(guān)的光學(xué)研究和應用提供了寶貴的數據支持。

    另一種變形則是Jamin干涉儀。這種干涉儀將分束器和折疊鏡組合成一個(gè)元件，形成了一種獨特的結構。這一設計使得該裝置具備了顯著(zhù)的優(yōu)勢，它非常堅固，能夠在復雜的環(huán)境中保持穩定的性能。尤其值得一提的是，當引入元件的分離、偏心或小傾斜時(shí)，參考臂和測試臂會(huì )經(jīng)歷幾乎相同的變化。這一特性使得Jamin干涉儀對元件的機械漂移不敏感，從而大大提高了測量的準確性和可靠性。

    這些變形的出現并非偶然，而是科學(xué)家們不斷探索和創(chuàng )新的結果。它們來(lái)源于《Handbook of Optical Systems, Volume 5 Metrology of Optical Components and Systems》《光學(xué)量測 81》《Handbook of Optical Systems 3》《光學(xué)量測·目錄 #光學(xué)量測》等專(zhuān)業(yè)著(zhù)作中的深入研究和實(shí)踐積累。

    在當今的科學(xué)研究和技術(shù)應用中，Mach–Zehnder干涉儀及其變形發(fā)揮著(zhù)越來(lái)越重要的作用。無(wú)論是在光學(xué)元件的質(zhì)量檢測，還是在探索新的物理現象和光學(xué)原理方面，它們都為我們打開(kāi)了一扇扇通向未知世界的窗戶(hù)。